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海瑞思Debug治具——寻找3C产品漏点的关键

测试产品: 手机CPT/中框/半成品/整机不良品

适配仪器型号: 手机Debug治具

测试压力: 

泄漏值(判定标准): 

测试时间: 

生产效率: 

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Debug治具也叫不良品分析治具,是用在气密测试检测不良品后,通过此治具可快速的排查漏点所在位置的一种工具。

原理:将需要测试的产品部位在Debug治具上做相应的避空(观察窗),然后通过正负压控制盒在产品内部充进适当的压力,再将产品浸到水里看气泡,有气泡的地方就是产品的漏点所在。

也可以用抽真空的方式,将装有产品的Debug治具浸到红墨水当中,然后拆开产品观察红墨水的漏入路径。



海瑞思Debug治具

做客户所需——作为专业的气密性检测仪设备厂家,海瑞思为客户提供整套、完善的3C产品检测方案:气密性检测仪+工装+(测试)治具+(Debug)治具,或自动化生产设备,以更好的为防水产品保驾护航。

常见类型的Debug治具:

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海瑞思手机Debug治具

1.手机Debug治具:CTP Debug治具、半成品Debug治具、电池盖Debug治具、整机Debug治具


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海瑞思手表Debug治具

2.手表Debug治具:前壳Debug治具、后盖Debug治具、中框Debug治具


Debug治具是3C数码产品在检测过程中不可或缺的工具。对检测出的不良品使用Debug治具,可以帮助客户快速定位不良品的漏点,大大提高产线的良品率,满足了客户对气密性检测整套设备的需求。



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