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手机半成品 DEBUG治具

DEBUG治具

也叫不良品分析治具,是用在气密测试到NG品后,通过此治具可以快速的排查出漏点所在。

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它的原理是:将需要测试的产品部位在DEBUG治具上做相应的避空(观察窗),然后通过控制盒在产品内部加适当的压力,再将产品浸到水里看气泡,有气泡的地方就是产品的漏点所在。也可以用抽真空的方式,将产品浸到红墨水当中,然后看产品的红墨水路径。 

常见的有手机DEBUG治具,比如CTP DEBUG治具、半成品DEBUG治具、电池盖DEBUG治具、整机DEBUG治具。


Debug治具也叫不良品分析治具,是用在气密测试检测不良品后,通过此治具可快速的排查漏点所在位置的一种工具。

原理:将需要测试的产品部位在Debug治具上做相应的避空(观察窗),然后通过正负压控制盒在产品内部充进适当的压力,再将产品浸到水里看气泡,有气泡的地方就是产品的漏点所在。

也可以用抽真空的方式,将装有产品的Debug治具浸到红墨水当中,然后拆开产品观察红墨水的漏入路径。


海瑞思Debug治具

做客户所需——作为专业的气密性检测仪设备厂家,海瑞思为客户提供整套、完善的3C产品检测方案:气密性检测仪+工装+(测试)治具+(Debug)治具,或自动化生产设备,以更好的为防水产品保驾护航。

常见类型的Debug治具:

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海瑞思手机Debug治具

1.手机Debug治具:CTP Debug治具、半成品Debug治具、电池盖Debug治具、整机Debug治具


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海瑞思手表Debug治具

2.手表Debug治具:前壳Debug治具、后盖Debug治具、中框Debug治具


Debug治具是3C数码产品在检测过程中不可或缺的工具。对检测出的不良品使用Debug治具,可以帮助客户快速定位不良品的漏点,大大提高产线的良品率,满足了客户对气密性检测整套设备的需求。




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